Modélisation conceptuelle d’une unité de fabrication microélectronique
La modélisation des systèmes de production est difficile en raison du nombre et de la diversité des paramètres à prendre en compte et de la complexité des relations entre ces paramètres. Dans cet article, nous nous intéressons à l’étude d’une unité complètement automatisée de fabrication de wafers...
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Institution: | Universidad EIA |
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Main Author: | |
Format: | Artículo de revista |
Language: | fre |
Published: |
Civil, Ambiental Geológica e Industrial
2014-05-08
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Subjects: | |
Online Access: | https://repository.eia.edu.co/handle/11190/575 |
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Summary: | La modélisation des systèmes de production est difficile en raison du nombre et de la diversité des
paramètres à prendre en compte et de la complexité des relations entre ces paramètres. Dans cet article,
nous nous intéressons à l’étude d’une unité complètement automatisée de fabrication de wafers semi-conducteurs
(fab). Dans la littérature, leur analyse est très souvent réalisée en utilisant des modèles de simulation à
événements discrets, mais ces travaux ne présentent pas une véritable conceptualisation du modèle utilisé.
L’objectif de cet article est de conceptualiser, à travers des méthodologies formelles, tous les composants
d’une unité de production microélectronique: au niveau macro, le système physique de production et son
système de supervision, ainsi que, au niveau micro, le processus de fabrication. Ces approches nous aideront
à identifier les objets du modèle et leurs interactions permettant ensuite de développer un programme de
simulation pour l’analyser du fonctionnement dynamique du system.
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Physical Description: | 16 p. |
ISSN: | ISSN 17941237 |